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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > 近場(chǎng)探頭 > EM5030ECybertek近場(chǎng)探頭EM5030E
產(chǎn)品型號(hào)：EM5030E廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-06-02訪 問(wèn) 量：870產(chǎn)品分類(lèi)CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣 |
一、Cybertek近場(chǎng)探頭EM5030E概述
EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專(zhuān)門(mén)用來(lái)測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。探頭通過(guò)50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí)，可以配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。
二、Cybertek近場(chǎng)探頭EM5030E參數(shù)
三、應(yīng)用
1.EMI輻射干擾源定位
2.磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)
四、授權(quán)證書(shū)
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